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  • 产品名称：C测试仪

  • 产品型号：3504-50
  • 产品厂商：HIOKI/日置
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简单介绍：
C测试仪 高速测量2ms 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
详情介绍：
C测试仪
基本参数
测量参数 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围 C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本确度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒定电压模式: 100mV (**3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外）
显示 发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能 4端子控制检测功能（**3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）
电源 AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 电源线×1，预备电源保险丝×1
选件
测试冶具或电缆
SMD测试冶具 9699
line
9699 底部 SMD电极
操作频率:DC～120MHz
测量对象尺寸：W:1.0~4.0mm H:1.5mm
SMD测试冶具 9677
line
9677 侧面 SMD 电极
操作频率:DC～120MHz
测量对象尺寸:3.5±0.5mm
SMD测试冶具 9263
line
9263 直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
测试冶具 9262
DC～5 MHz, 直结型
测试冶具 9261
line
9261 DC～5 MHz, 1 m
针型测试探头 9143
line
9143 DC～5 MHz, 1 m
4端子测试探头 9140
line
9140 DC～100 kHz, 1 m
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